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PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

光探測磁共振譜超快瞬態吸收拉曼光譜熒光光譜顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

紫外分光全光譜光通量測量系統

●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍 ●具有紫外線自吸收校正的高精度測量 ●配備溫度控制單元，可從-110°C進行溫度控制 ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ●電源、溫控單元、測量儀軟件批量控制

更新時間：2025-12-24

產品型號：

瀏覽量：796
相位差測量裝置 RETS-100nx New

采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備

更新時間：2025-12-24

產品型號：

瀏覽量：820
液晶層間隙量測設備 RETS series

采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備

更新時間：2025-12-24

產品型號：

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橢偏儀 FE-5000/5000S

●可在紫外和可見（250至800nm）波長區域中測量橢圓參數 ●可分析納米級多層薄膜的厚度 ●可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜 ●通過可變反射角測量，可詳細分析薄膜 ●通過創建光學常數數據庫和追加菜單注冊功能，增強操作便利性 ●通過層膜貼合分析的光學常數測量可控制膜厚度/膜質量

更新時間：2025-12-24

產品型號：

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總光譜光通量測量系統 HM/FM series

●可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 ●測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準 ●采用新的探測器，可以進行廣動態范圍的測量 ●測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從φ250毫米到φ3000毫米都能對應 ●支持LIV測量，脈沖點測量，樣品溫度測量 ●兼容脈沖寬度調制（PWM）調光

更新時間：2025-12-24

產品型號：

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彩色濾光片、光刻膠測量裝置 LCF SERIES

以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置

更新時間：2025-12-24

產品型號：

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