PSM-LN2 系列液氮高低溫探針臺

產品簡介
PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺能夠為半導體芯片的電學參數測試提供一個80K-800K高低溫真空測試環境，通過外接不同的電學測量儀器，可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數檢測，用于低溫真空環境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。

產品型號：

更新時間：2026-04-01

廠商性質：生產廠家

訪問量：737

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

低溫和探針臺

其他冷熱臺顯微冷熱臺液氮高低溫探針臺室溫手動探針臺

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產品概述

液氮高低溫探針臺在科學研究和技術開發中發揮著至關重要的作用。它能夠在低溫環境下對樣品進行各種非破壞性的物理性能和電學性能測試，幫助研究人員深入了解材料或者器件的各種物理性能和電學性能，從而為新材料的研發和應用提供重要的數據支持。

PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺能夠為半導體芯片的電學參數測試提供一個80K-800K高低溫真空測試環境，通過外接不同的電學測量儀器，可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數檢測，用于低溫真空環境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電測試。

特點
• 液氮高低溫真空探針臺，15分鐘內腔體真空度可達到 10E-4torr，液氮消耗量小,降到溫度只需0.2L液氮，使用方便快捷同時兼顧經濟性。
• 探針臂的位移調節在真空腔外操作，可以在不破壞真空的情況下，切換樣品上的不同器件進行測試。
• 特別的探針臂 X-Y-Z-R四維調節，能滿足4英寸樣品的測試。
• 真空腔材質為鋁制材料，能夠有效減小外界的電磁干擾，提高測試的精準度和穩定性
• 探針臂采用三同軸接頭，漏電性能好，實測漏電流小于100fA @1V@80K–800K
• 測試溫度范圍寬，支持80K-800K連續變溫。
• 特別設計的柔性探針，將探針安裝到銅制彈片上，避免扎針過程中力量過大導致樣品或電極損壞
• 上蓋采用翻蓋結構，換樣更便捷。

技術參數

參數和指標：

探針臺主機分類
型號	PSM-LN2-2	PSM-LN2-2H	PSM-LN2-4	PSM-LN2-4H
溫度范圍	80K–500K	80K–800K	80K–500K	80K–800K
控溫穩定性	+/-50mK	+/-100mk	+/-50mK	+/-100mk
樣品座
類型及材料	無氧銅接地鍍金樣品座	無氧銅接地樣品座	無氧銅接地樣品座	無氧銅接地樣品座
尺寸	2寸	2寸	4寸	4寸
可選規格	絕緣樣品座（溫度只能到400K）同軸樣品座（溫度只能到400K）三同軸樣品座（溫度只能到400K）
探針臂
類型	直流探針臂
數量	4
接頭及電纜	三同軸接頭+極細同軸低溫電纜
漏電流	100fA@1V 真空環境中
信號頻率	DC–50MHz
匹配阻抗	50歐姆
位移范圍	Z +/-6.5m R+/-10° X+/- 50mm,Y+/- 12.5m		X+/- 35mm,Y+/- 12.5m Z +/-6.5m R+/-10°
光學系統
顯微鏡放大倍數	10–180倍
分辨率	3微米
視場	22mm
工作距離	90–100mm
真空腔
材料	鋁合金
腔體容積	4L		5.5L
整體尺寸	800800600		900900600
腔體內徑	124mm		155mm
視窗尺寸	50mm		100mm
真空腔體窗口	紅外吸收窗口
防輻射屏窗口	N/A	標準石英窗口	N/A	標準石英窗口
真空度	5*10E-4 torr
預留接口	2個探針臂接口&2個電學接口
防輻射屏材料	N/A	不銹鋼	N/A	不銹鋼
液氮腔體
液氮容量	0.5L
冷卻時間	60分鐘到80K		80分鐘到80K
液氮消耗量	0.2L從室溫到80K		0.3L從室溫到80K
液氮保持時間	4小時@80K		3小時@80K
專用振動隔離桌
尺寸	800800800		900900800
桌推	固定腳&滾輪