光電流測試

產品簡介
光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。

Name: 光電流測試S-LBIC
Availability: InStock

產品型號：S-LBIC

更新時間：2026-03-31

廠商性質：生產廠家

訪問量：2824

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

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光電流測試系統概述

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半導體參數分析儀是一種集多種測量和分析功能于一體的測試儀器

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　　光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。

　　主要原理：

　　光電流測試的原理是利用光照射器件或材料后，通過測量器件或材料的電流輸出來判斷其光電性能。測試時，光源會照射在待測試樣品上，產生電子和空穴對并使其發生光電效應，從而產生電流輸出。根據電流輸出的大小和特征，可以判斷樣品的光電性能和特性參數。

光電流測試

　　主要步驟：

　　(1)準備測試樣品：準備待測試的器件或材料，并將其放置在測試臺上。

　　(2)設置測試條件：根據測試要求，設置光源的光強、波長、照射時間等測試條件。

　　(3)進行測試：打開光源，照射待測試樣品，記錄測試數據。

　　(4)分析測試結果：根據測試數據，分析樣品的光電性能和特性參數，如響應時間、量子效率、光電轉換效率等。

　　S-LBIC光電流測試簡介

　　• 寬光譜范圍(200~14000nm可選)，適用面廣

　　• 調制法測量技術，提升測量結果信噪比

　　• 開機即用的Turnkey系統設計，維護簡單

　　• 監視光路，方便樣品定位

　　• 全反射光路設計，優化光斑質量

　　• 高穩定性光源，降低背景噪聲影響

　　• 標準測量軟件，數據導出格式支持第三方軟件

　　光電流測試應用領域：

　　• 二維材料，太陽能電池，納米光子學，光電器件，PN結器件…

　　特點：

　　• 微米級空間分辨率

　　• 連續/脈沖激光可選

　　• 波長連續可調的超連續譜光源可選

　　• nA、pA、fA不同精度的源表可選

　　• 可以測量不同偏壓下的光電流圖像/光譜響應度

S-LBIC顯微光電流成像系統

　　主要應用：

　　(1)半導體器件測試：光電流測試主要應用于半導體器件的測試和分析，如光電二極管、光敏電阻等。

　　(2)光電器件測試：該測試方法還可以用于光電器件的測試和分析，如太陽能電池、光伏發電系統等。

　　(3)材料研究：光電流測試還可以應用于材料的研究，如光敏材料、半導體材料等的光電性能測試。

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